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Imagen de portada: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition 1st edition 9783540372363

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

1st Edición

  • Autor(es) DitYan Yeung; ‎James T. Kwok; ‎Ana Fred
  • Editor Publicado por Springer Copyright © 2006
  • "ISBN-13 9783540372363"
  • Formato Diseño fijo

Libro electrónico

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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings 1st Edición fue escrito por DitYan Yeung; ‎James T. Kwok; ‎Ana Fred y publicado por Springer. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition son 9783540372417, 3540372415 y los ISBN de versión impresa son 9783540372363, 3540372369. Ahorra hasta un 80% en comparación con la versión impresa al volverte digital con VitalSource.

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