Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach está escrito por Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu y publicado por Springer. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design son 9789811985515, 9811985510 y los ISBN de versión impresa son 9789811985508, 9811985502. Da el salto al mundo digital con VitalSource y ahorra hasta un 80 % en comparación con la versión impresa.

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