• Soluciones de educación y negocios Se abre en una nueva ventana
Imagen de portada: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 1st edition 9780750305006

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

1st Edición

  • Autor(es) J. Doneker
  • Editorial Publicado por Routledge Copyright © 1998
  • ISBN-13 9780750305006
  • Formato Diseño ajustable

Libro electrónico

Licencia de eTextbook
‌
€301.60 EUR
‌
‌

  • Herramientas de estudio

    Herramientas de estudio incorporadas, como resaltados y más

  • Leer en voz alta

    Escucha y sigue la narración mientras Bookshelf lee para ti

  • Acceso sin conexión

    Accede a tu libro de texto electrónico en cualquier momento y en cualquier lugar

  • Búsqueda general

    Busca entre el contenido del libro, las figuras y tu libro de trabajo

Más informacíón

VitalSource Más de 25 años de transformación digital

  • 4500 Instituciones

  • +230 Países y territorios

  • +10 000 Editores

  • +18 M Usuarios activos

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st Edición está escrito por J. Doneker y publicado por Routledge. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 son 9781351456463, 1351456466 y los ISBN de versión impresa son 9780750305006, 0750305002. Da el salto al mundo digital con VitalSource y ahorra hasta un 80 % en comparación con la versión impresa. Entre otros ISBN para este libro de texto electrónico se incluyen 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

Volver al principio