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Imagen de portada: Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices 9789812389404

Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices

  • Autor(es) Schrimpf Ronald D
  • Editorial Publicado por World Scientific
  • "ISBN-13 9789812389404"
  • Formato Diseño fijo

Libro electrónico

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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices está escrito por Schrimpf Ronald D y publicado por World Scientific. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices son 9789812794703, 9812794700 y los ISBN de versión impresa son 9789812389404, 9812389407. Da el salto al mundo digital con VitalSource y ahorra hasta un 80 % en comparación con la versión impresa.

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