The Physics of SiO2 and Its Interfaces

Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978

The Physics of SiO2 and Its Interfaces: Proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO2 and Its Interfaces Held at the IBM Thomas J. Waston Research Center, Yorktown Heights, New York, March 22-24, 1978 y publicado por Pergamon. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de The Physics of SiO2 and Its Interfaces son 9781483139005, 148313900X y los ISBN de versión impresa son 9780080230498, 0080230490. Da el salto al mundo digital con VitalSource y ahorra hasta un 80 % en comparación con la versión impresa.

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