Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits está escrito por Xiao Liu; Qiang Xu y publicado por Springer. Los ISBN digitales y de libros de texto electrónicos de Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits son 9783319005331, 3319005332 y los ISBN de versión impresa son 9783319005324, 3319005324. Da el salto al mundo digital con VitalSource y ahorra hasta un 80 % en comparación con la versión impresa.

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