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Immagine di copertina: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching 9783642066634

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

  • Autore(i) Gerd Kaupp
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2006
  • "ISBN-13 9783642066634"
  • Formato Layout fisso

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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces è scritto da Gerd Kaupp e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching sono 9783540284727, 3540284729 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9783642066634, 3642066631. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource. Ulteriori codici ISBN per questo eTextbook includono 9783540284055.

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