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Immagine di copertina: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces 9781461428572

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

  • Autore(i) Weronika Walkosz
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2011
  • ISBN-13 9781461428572
  • Formato Layout adattabile

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces è scritto da Weronika Walkosz e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces sono 9781441978172, 1441978178 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9781461428572, 1461428572. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource. Ulteriori codici ISBN per questo eTextbook includono 9781441978165.

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