Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach è scritto da Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design sono 9789811985515, 9811985510 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9789811985508, 9811985502. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach è scritto da Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design sono 9789811985515, 9811985510 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9789811985508, 9811985502. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.