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Immagine di copertina: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 1st edition 9780750305006

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

1st Edizione

  • Autore(i) J. Doneker
  • Editore Pubblicato da Routledge Copyright © 1998
  • "ISBN-13 9780750305006"
  • Formato Layout adattabile

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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st Edizione è scritto da J. Doneker e pubblicato da Routledge. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 sono 9781351456463, 1351456466 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9780750305006, 0750305002. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource. Ulteriori codici ISBN per questo eTextbook includono 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

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