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Immagine di copertina: Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 9783030156114

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

  • Autore(i) Umberto Celano
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2019
  • "ISBN-13 9783030156114"
  • Formato Layout adattabile

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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics è scritto da Umberto Celano e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics sono 9783030156121, 3030156125 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9783030156114, 3030156117. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

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