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Immagine di copertina: Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability 9781845699376

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability

  • Autore(i) Kim, C-U
  • Editore Pubblicato da Woodhead Publishing
  • "ISBN-13 9781845699376"
  • Formato Layout fisso

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Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability è scritto da Kim, C-U e pubblicato da Woodhead Publishing. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability sono 9781845699376, 9780857093752, 0857093754 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9781845699376, 1845699378. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

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