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Immagine di copertina: Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light 1st edition 9781848219366

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

1st Edizione

  • Autore(i) Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
  • Editore Pubblicato da Wiley-ISTE Copyright © 2016
  • "ISBN-13 9781848219366"
  • Formato Layout adattabile

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light 1st Edizione è scritto da Pierre-Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami e pubblicato da Wiley-ISTE. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light sono 9781119329688, 111932968X e gli ISBN per la versione cartacea sono 9781848219366, 1848219369. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource. Ulteriori codici ISBN per questo eTextbook includono 9781119329633.

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