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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance

  • Autore(i) Kipp van Schooten
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2013
  • "ISBN-13 9783319005898"
  • Formato Layout adattabile

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Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance è scritto da Kipp van Schooten e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Optically Active Charge Traps and Chemical Defects in Semiconducting Nanocrystals Probed by Pulsed Optically Detected Magnetic Resonance sono 9783319005904, 3319005901 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9783319005898, 3319005898. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

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