Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard è scritto da Nicola Nicolici; Bashir M. Al-Hashimi e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Power-Constrained Testing of VLSI Circuits sono 9780306487316, 0306487314 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9781402072352, 140207235X. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

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