• Soluzioni per l'istruzione e le imprese Si apre in una nuova finestra
Immagine di copertina: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition 1st edition 9783540372363

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition

Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

1st Edizione

  • Autore(i) DitYan Yeung; ‎James T. Kwok; ‎Ana Fred
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2006
  • "ISBN-13 9783540372363"
  • Formato Layout fisso

eBook

Licenza eTextbook
‌
€28.08 EUR
‌
‌

  • Strumenti di studio

    Strumenti di studio integrati come momenti salienti e altro

  • Leggi ad alta voce

    Ascolta e segui mentre Bookshelf legge il testo per te

  • Accesso offline

    Accedi al tuo eTextbook sempre e ovunque

  • Ricerca globale

    Cerca nel contenuto del libro, nelle figure e nella tua cartella di lavoro

Ulteriori informazioni

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings 1st Edizione è scritto da DitYan Yeung; ‎James T. Kwok; ‎Ana Fred e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition sono 9783540372417, 3540372415 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9783540372363, 3540372369. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

Torna all'inizio