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Immagine di copertina: Testing Static Random Access Memories 9781402077524

Testing Static Random Access Memories

Defects, Fault Models and Test Patterns

  • Autore(i) Said Hamdioui
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2004
  • "ISBN-13 9781402077524"
  • Formato Layout fisso

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Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns è scritto da Said Hamdioui e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Testing Static Random Access Memories sono 9781475767063, 1475767064 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9781402077524, 1402077521. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource. Ulteriori codici ISBN per questo eTextbook includono 9781441954305.

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