Immagine di copertina: Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures 9783540004141

Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures

An Analysis of Composition and Strain State

  • Autore(i) Andreas Rosenauer
  • Editore Pubblicato da Springer Copyright © 2003
  • "ISBN-13 9783540004141"
  • Formato Layout fisso

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Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State è scritto da Andreas Rosenauer e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures sono 9783540364078, 3540364072 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9783540004141, 3540004149. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

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