VLSI Design and Test

VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers è scritto da Author e pubblicato da Springer. Gli ISBN digitali e di eTextbook per VLSI Design and Test sono 9789811359507, 9811359504 e gli ISBN per la versione cartacea sono 9789811359491, 9811359490. Risparmia fino al 80% rispetto alla versione cartacea passando al digitale con VitalSource.

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