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Security by Design
Innovative Perspectives on Complex Problems
- Springer
- Layout adattabile
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Free Electron Lasers 2002: Proceedings of the 24th International Free Electron Laser Conference and the 9th FEL Users Workshop, Argonne, Illinois, U.S.A., September 9-13, 2002
- Kim, K.-J.; Milton, S.V.; Gluskin, E.
- Elsevier Science
- Layout adattabile
€104.00 EURIl prezzo include l'IVA
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Relativity without Spacetime
- Joseph K. Cosgrove
- Palgrave Macmillan
- Layout adattabile
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Quantum Theory of Transport Properties of Single Molecules
- 1st Edizione
- Yoshihiro Asai
- Jenny Stanford Publishing
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Biomedical Photonics Handbook
Therapeutics and Advanced Biophotonics
- 2nd Edizione
- Tuan Vo-Dinh
- CRC Press
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Quantitative MRI in Cancer
- 1st Edizione
- CRC Press
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Diffusive Spreading in Nature, Technology and Society
- Author
- Springer
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Cosmogenic Radionuclides
Theory and Applications in the Terrestrial and Space Environments
- Jürg Beer; Ken McCracken; Rudolf Steiger
- Springer
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A Guide to Problems in Modern Electrochemistry 1
Ionics
- Maria E. Gamboa-Aldeco; Robert J. Gale
- Springer
- Layout fisso
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Brain-Computer Interface Research
A State-of-the-Art Summary 3
- Author
- Springer
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Cracking the Particle Code of the Universe
- John W. Moffat
- Oxford University Press
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Bionanotechnology II
Global Prospects
- 1st Edizione
- David E. Reisner
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The Remote Sensing of Tropospheric Composition from Space
- Springer
- Layout fisso
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Towards a Territorial Multi-Disaster Buildings’ Resistance Certification
- Daniele Fabrizio Bignami
- Springer
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Reliability Engineering
Theory and Practice
- 7th Edizione
- Alessandro Birolini
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Chromatic Monitoring of Complex Conditions
- 1st Edizione
- Gordon Rees Jones
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Encyclopedia of Astronomy & Astrophysics
- 1st Edizione
- CRC Press
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€624.00 EURIl prezzo include l'IVA
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Technical Safety – An Attribute of Quality
An Interdisciplinary Approach and Guideline
- Hubert Keller; Wolf-Dieter Pilz; Bernd Schulz-Forberg; Christian Langenbach
- Springer
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Wide-band-gap Semiconductors
- Van de Walle, C.G.
- North Holland
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An Integrated Company-Wide Management System
Combining Lean Six Sigma with Process Improvement
- Souraj Salah; Abdur Rahim
- Springer
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