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    Defects, Fault Models and Test Patterns
    • Said Hamdioui
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    Selected papers from FDL 2005
    • 1st Edizione
    • A. Vachoux
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    • Panos J. Antsaklis; Anthony N. Michel
    • Birkhäuser
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    • Janick Bergeron
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    Volume I: Experimental Observations
    • Bharathwaj Muthuswamy; Santo Banerjee
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    Key Technologies, Innovations, and Applications
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    • Roger A. Dana
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    Physics and Technology of TFTs
    • S.D. Brotherton
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    • Ayesha Khalid; Goutam Paul; Anupam Chattopadhyay
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    • 1st Edizione
    • Ralf Seepold; Arno Kunzmann
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    • Qizheng Gu
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    • Gerald B. Halt, Jr.; John C. Donch, Jr.; Amber R. Stiles; Robert Fesnak
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    • Wenjian Yu; Xiren Wang
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    • Yuki Shiomi
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  • eBook
    Technologies and Trends
    • Betty Prince
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  • eBook
    • Houda Labiod; Hossam Afifi; Costantino de Santis
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  • eBook
    • 1st Edizione
    • Ingrid M.R. Verbauwhede
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  • eBook
    Brain-like and Wave-oriented Electrodynamic Algorithms
    • 1st Edizione
    • Izzet Cem Göknar; Levent Sevgi
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  • eBook
    • Mohammad Farazian; Lawrence E. Larson; Prasad S. Gudem
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