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Navigazione di Circuits 341 - 360 di 3829 risultati

  • eBook
    • Pieter Harpe; Hans Hegt; Arthur H. M. van Roermund
    • Springer
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  • eBook
    • 1st Edizione
    • Dominique Dallet; ‎José Machado da Silva
    • Springer
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    High-Level Modeling and Directed Test Generation Techniques
    • Mingsong Chen; Xiaoke Qin; Heon-Mo Koo; Prabhat Mishra
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    • 1st Edizione
    • Cullis
    • CRC Press
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    • Dawei Li; Jie Wu
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    • Muhammed Bolatkale; Lucien J. Breems; Kofi A. A. Makinwa
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    Future Trend and System Level Perspective
    • Philip Teichmann
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    • Lipovski, G. Jack
    • Academic Press
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    €67.55 EURIl prezzo include l'IVA

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  • eBook
    22nd International Conference, NDES 2014, Albena, Bulgaria, July 4-6, 2014. Proceedings
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  • eBook
    12th International Workshop, PATMOS 2002, Seville, Spain, September 11 - 13, 2002
    • 1st Edizione
    • Bertrand Hochet; ‎Antonio J. Acosta; ‎Manuel J. Bellido
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  • eBook
    • David J. Allstot; Jinho Park; Kiyong Choi
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    • Wen-Wei Chen; Jiann-Fuh Chen
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  • eBook
    Physik, Eigenschaften, Zuverlässigkeit
    • Josef Lutz
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  • eBook
    • Abbas Rahimi; Luca Benini; Rajesh K. Gupta
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  • eBook
    Time-To-Failure Modeling
    • 3rd Edizione
    • J. W. McPherson
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  • eBook
    • 1st Edizione
    • Wolfram Donat
    • Maker Media, Inc
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