Navigazione di Measurement 421 - 439 di 798 risultati

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Mechatronics: Ideas, Challenges, Solutions and Applications
- Jan Awrejcewicz
- Springer
- Layout fisso
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Theory and Methodology of Electromagnetic Ultrasonic Guided Wave Imaging
- Songling Huang; Yu Zhang; Zheng Wei; Shen Wang; Hongyu Sun
- Springer
- Layout adattabile
A partire da:€28.08 EURIl prezzo include l'IVA
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Introduction to Quantum Metrology
The Revised SI System and Quantum Standards
- 2nd Edizione
- Waldemar Nawrocki
- Springer
- Layout adattabile
A partire da:€49.92 EURIl prezzo include l'IVA
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Computational Surface and Roundness Metrology
- Balasubramanian Muralikrishnan; Jayaraman Raja
- Springer
- Layout fisso
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Progress in Automation, Robotics and Measuring Techniques
Volume 3 Measuring Techniques and Systems
- Roman Szewczyk
- Springer
- Layout fisso
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Machine Vision
Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications
- Jürgen Beyerer; Fernando Puente León; Christian Frese
- Springer
- Layout fisso
A partire da:€46.80 EURIl prezzo include l'IVA
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Unraveling Thermoluminescence
- C M Sunta
- Springer
- Layout adattabile
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Metal-Matrix Composites
Advances in Analysis, Measurement, and Observations
- Springer
- Layout adattabile
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Metrology for Inclusive Growth of India
- 1st Edizione
- Dinesh K. Aswal
- Springer
- Layout adattabile
A partire da:€43.68 EURIl prezzo include l'IVA
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Interventional Magnetic Resonance Imaging
- 1st Edizione
- Thomas Kahn; ‎Harald Busse
- Springer
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A partire da:€62.40 EURIl prezzo include l'IVA
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Agriculture and Air Quality
Investigating, Assessing and Managing
- Springer
- Layout adattabile
A partire da:€53.04 EURIl prezzo include l'IVA
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A Practical Guide to Surface Metrology
- Michael Quinten
- Springer
- Layout adattabile
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Material Properties under Intensive Dynamic Loading
- 1st Edizione
- Mikhail V. Zhernokletov; ‎B. L. Glushak
- Springer
- Layout fisso
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Intelligent Beam Control in Accelerators
- Zheqiao Geng; Stefan Simrock
- Springer
- Layout adattabile
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Measurement Uncertainties
Physical Parameters and Calibration of Instruments
- S. V. Gupta
- Springer
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Methods and Technologies for Measuring the Earth’s Gravity Field Parameters
- Springer
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Messunsicherheiten – Anwendungen
Für das Physikalische Praktikum
- Thomas Bornath; Günter Walter
- Springer Spektrum
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Ionospheric Tomography
- Viacheslav E. Kunitsyn; Evgeni D. Tereshchenko
- Springer
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Physics of Low Dimensional Systems
- 1st Edizione
- J.L. MoránLópez
- Springer
- Layout fisso
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