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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 著者: Alberto Bosio; Luigi Dilillo; Patrick Girard; Serge Pravossoudovitch; Arnaud Virazel 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Advanced Test Methods for SRAMs : 9781441909381, 1441909389 および 印刷版のISBNは 9781441909374, 1441909370. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9781489983145.