表紙画像: Advanced VLSI Design and Testability Issues 1st edition 9780367492823

Advanced VLSI Design and Testability Issues

1st 版

  • 著者 Sobhit Saxena; Sushanta Kumar Mohapatra; Suman Lata Tripathi
  • 出版社 公開者： CRC Press 著作権 © 2021
  • "ISBN-13 9780367492823"
  • 形式 リフロー可能なレイアウト

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Advanced VLSI Design and Testability Issues 1st 版 著者: Sobhit Saxena; Sushanta Kumar Mohapatra; Suman Lata Tripathi 出版 CRC Press. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Advanced VLSI Design and Testability Issues : 9781000168174, 1000168174 および 印刷版のISBNは 9780367492823, 0367492822. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9780367538361, 9781003083436, 9781000168150, 9781000168167, 9781041323938.

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