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Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products 著者: Bowen, W. Richard; Hilal, Nidal 出版 Elsevier Butterworth Heinemann. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products : 9781856175173, 9780080949574, 0080949576 および 印刷版のISBNは 9781856175173, 1856175170. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。