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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces 著者: Gerd Kaupp 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching : 9783540284727, 3540284729 および 印刷版のISBNは 9783642066634, 3642066631. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9783540284055.