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Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities: The Extraction of Transverse Beam Position from Beam-Excited Higher Order Modes 著者: Pei Zhang 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Beam Diagnostics in Superconducting Accelerating Cavities : 9783319007595, 3319007599 および 印刷版のISBNは 9783319007588, 3319007580. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
