表紙画像: Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design 9789811985508

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

  • 著者 Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu
  • 出版社 公開者： Springer 著作権 © 2023
  • ISBN-13 9789811985508
  • 形式 リフロー可能なレイアウト

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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach 著者: Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : 9789811985515, 9811985510 および 印刷版のISBNは 9789811985508, 9811985502. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。

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