ハイライトなど組み込みの学習ツール
Bookshelf による読み上げを聞いて理解を進める
いつでもどこでも eTextbook にアクセス
書籍の内容、図表、ワークブックを横断的に検索できます。
CMOS Plasma and Process Damage 著者: Kirk Prall 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: CMOS Plasma and Process Damage : 9783031890291, 3031890299 および 印刷版のISBNは 9783031890284, 3031890280. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
