表紙画像: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 1st edition 9780750305006

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

1st 版

  • 著者 J. Doneker
  • 出版社 公開者： Routledge 著作権 © 1998
  • ISBN-13 9780750305006
  • 形式 リフロー可能なレイアウト

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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st 版 著者: J. Doneker 出版 Routledge. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : 9781351456463, 1351456466 および 印刷版のISBNは 9780750305006, 0750305002. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

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