1st 版
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Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices 1st 版 著者: Evgeni Gusev 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks : 9781402043673, 1402043678 および 印刷版のISBNは 9781402043659, 1402043651. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
