Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology 1st 版

表紙画像: Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology 1st edition 9789401009447
  • 著者
    Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom
  • 出版社
    Springer
  • 形式
    固定レイアウト
  • ISBNを印刷する 9789401009447, 9401009449
  • 電子教科書ISBN 9789401009447, 9401009449
  • 版
    1st
  • 著作権
    2000
eTextbookライセンス
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¥10,032 JPY
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Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology 1st 版 著者: Gianfranco Pacchioni; Linards Skuja; David L. Griscom 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology : 9789401009447, 9401009449 および 印刷版のISBNは 9789401009447, 9401009449. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9780792366850, 9780792366867.

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