Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability 著者: Kim, C-U 出版 Woodhead Publishing. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability : 9781845699376, 9780857093752, 0857093754 および 印刷版のISBNは 9781845699376, 1845699378. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
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