表紙画像: On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond 1st edition 9788770043564

On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond

1st 版

電子書籍

eTextbookライセンス
¥9,221 JPY

  • 学習ツール

    ハイライトなど組み込みの学習ツール

  • 読み上げ

    Bookshelf による読み上げを聞いて理解を進める

  • オフラインアクセス

    いつでもどこでも eTextbook にアクセス

詳細を表示