Reliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC Interconnects 1st 版 著者: John H. Lau 出版 McGraw-Hill. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Reliability of RoHS-Compliant 2D and 3D IC Interconnects : 9780071753807, 007175380X および 印刷版のISBNは 9780071753791, 0071753796. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
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