Reliability Prediction for Microelectronics 1st 版

表紙画像: Reliability Prediction for Microelectronics 1st edition 9781394210930
  • 著者
    Joseph B. Bernstein; Alain Bensoussan; Emmanuel Bender
  • 出版社
    John Wiley & Sons P&T
  • 形式
    リフロー可能なレイアウト
  • ISBNを印刷する 9781394210930, 1394210930
  • 電子教科書ISBN 9781394210954, 1394210957
  • 版
    1st
  • 著作権
    2024
eTextbookライセンス
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Reliability Prediction for Microelectronics 1st 版 著者: Joseph B. Bernstein; Alain Bensoussan; Emmanuel Bender 出版 John Wiley & Sons P&T. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Reliability Prediction for Microelectronics : 9781394210954, 1394210957 および 印刷版のISBNは 9781394210930, 1394210930. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9781394210961.

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