表紙画像: Reliability Prediction for Microelectronics 1st edition 9781394210930

Reliability Prediction for Microelectronics

1st 版

  • 著者 Joseph B. Bernstein; Alain Bensoussan; Emmanuel Bender
  • 出版社 公開者： John Wiley & Sons P&T 著作権 © 2024
  • "ISBN-13 9781394210930"
  • 形式 リフロー可能なレイアウト

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Reliability Prediction for Microelectronics 1st 版 著者: Joseph B. Bernstein; Alain Bensoussan; Emmanuel Bender 出版 John Wiley & Sons P&T. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Reliability Prediction for Microelectronics : 9781394210954, 1394210957 および 印刷版のISBNは 9781394210930, 1394210930. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9781394210961.

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