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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 著者: Ruijing Shen; Sheldon X. -D. Tan; Hao Yu 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs : 9781461407881, 1461407885 および 印刷版のISBNは 9781461407874, 1461407877. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
