System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability

表紙画像: System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability 9780123739735
  • 著者
    Wang, Laung-Terng; Stroud, Charles E.; Touba, Nur A.
  • 出版社
    Morgan Kaufmann
  • 形式
    固定レイアウト
  • ISBNを印刷する 9780123739735, 012373973X
  • 電子教科書ISBN 9780123739735, 9780080556802, 0080556809
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability 著者: Wang, Laung-Terng; Stroud, Charles E.; Touba, Nur A. 出版 Morgan Kaufmann. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability : 9780123739735, 9780080556802, 0080556809 および 印刷版のISBNは 9780123739735, 012373973X. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9786611100049, 9781281100047.

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