1st 版
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Testing Complex and Embedded Systems 1st 版 著者: Kim H. Pries; Jon M. Quigley 出版 CRC Press. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Testing Complex and Embedded Systems : 9781351688994, 1351688995 および 印刷版のISBNは 9781439821404, 1439821402. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9781315169453, 9781351689007, 9780367830571, 9781351688987.