表紙画像: Testing Static Random Access Memories 9781402077524

Testing Static Random Access Memories

Defects, Fault Models and Test Patterns

  • 著者 Said Hamdioui
  • 出版社 公開者： Springer 著作権 © 2004
  • "ISBN-13 9781402077524"
  • 形式 固定レイアウト

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Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns 著者: Said Hamdioui 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: Testing Static Random Access Memories : 9781475767063, 1475767064 および 印刷版のISBNは 9781402077524, 1402077521. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。 この eTextbook の追加の ISBN には次のものがあります: 9781441954305.

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