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VLSI Design and Test: 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers 著者: Author 出版 Springer. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: VLSI Design and Test : 9789811359507, 9811359504 および 印刷版のISBNは 9789811359491, 9811359490. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
