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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability 著者: Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing 出版 Morgan Kaufmann. 以下のデジタルおよびeTextbook ISBNs: VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability : 9780123705976, 9780080474793, 0080474799 および 印刷版のISBNは 9780123705976, 0123705975. VitalSource でデジタル化することで、印刷に比べて最大 80% 節約できます。
