• Educatieve en zakelijke oplossingen Wordt geopend in nieuw venster
Omslagafbeelding: Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching 9783642066634

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

  • Auteur(s) Gerd Kaupp
  • Uitgever Gepubliceerd door Springer Copyright © 2006
  • "ISBN-13 9783642066634"
  • Indeling Vaste lay-out

eBook

Licentie eTextbook
‌
€65.40 EUR
‌‌
‌

  • Studietools

    Ingebouwde studiehulpmiddelen zoals markeringen en meer

  • Hardop voorlezen

    Luister en lees mee terwijl Bookshelf voorleest

  • Offline toegang

    Altijd en overal toegang tot je eTextbook

  • Algemene zoekfunctie

    Doorzoek de boekinhoud, illustraties en je werkmap

Meer informatie

VitalSource 25+ jaar digitale transformatie

  • 4500 Instelling

  • 230+ Landen en gebieden

  • 10K+ Uitgevers

  • 18M+ Actieve gebruikers

Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces is geschreven door Gerd Kaupp en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching zijn 9783540284727, 3540284729 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9783642066634, 3642066631. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource. Aanvullende ISBN's voor dit eTextbook zijn 9783540284055.

Terug naar boven