Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach is geschreven door Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design zijn 9789811985515, 9811985510 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9789811985508, 9811985502. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.

Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach is geschreven door Xiaowei Li; Guihai Yan; Cheng Liu en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design zijn 9789811985515, 9811985510 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9789811985508, 9811985502. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.