• Educatieve en zakelijke oplossingen Wordt geopend in nieuw venster

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies
Process-Aware SRAM Design and Test

Omslagafbeelding: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies 9781402083624
  • Auteur(s)
    Andrei Pavlov; Manoj Sachdev
  • Uitgever
    Springer
  • Indeling
    Vaste lay-out
  • ISBN van papieren boek 9781402083624, 1402083629
  • ISBN van eText 9781402083631, 1402083637
  • Copyright
    2008
Licentie eTextbook
‌‌
€49.05 EUR
‌
‌

  • Studietools

    Ingebouwde studiehulpmiddelen zoals markeringen en meer

  • Hardop voorlezen

    Luister en lees mee terwijl Bookshelf voorleest

  • Offline toegang

    Altijd en overal toegang tot je eTextbook

  • Algemene zoekfunctie

    Doorzoek de boekinhoud, illustraties en je werkmap

Meer informatie

VitalSource 25+ jaar digitale transformatie

  • 4500 Instelling

  • 230+ Landen en gebieden

  • 10K+ Uitgevers

  • 18M+ Actieve gebruikers

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test is geschreven door Andrei Pavlov; Manoj Sachdev en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies zijn 9781402083631, 1402083637 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9781402083624, 1402083629. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.

Terug naar boven