Omslagafbeelding: Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 1st edition 9780750305006

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997

Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

1st Editie

  • Auteur(s) J. Doneker; I. Rechenberg
  • Uitgever Gepubliceerd door CRC Press Copyright © 1998
  • "ISBN-13 9780750305006"
  • Indeling Reflowable lay-out

eBook

Licentie eTextbook
‌
€403.30 EUR
‌‌
‌

  • Studietools

    Ingebouwde studiehulpmiddelen zoals markeringen en meer

  • Hardop voorlezen

    Luister en lees mee terwijl Bookshelf voorleest

  • Offline toegang

    Altijd en overal toegang tot je eTextbook

  • Algemene zoekfunctie

    Doorzoek de boekinhoud, illustraties en je werkmap

Meer informatie

Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 1st Editie is geschreven door J. Doneker; I. Rechenberg en gepubliceerd door CRC Press. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 zijn 9781351456463, 1351456466 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9780750305006, 0750305002. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource. Aanvullende ISBN's voor dit eTextbook zijn 9781315140810, 9781351456456, 9781351456470.

Terug naar boven