• Educatieve en zakelijke oplossingen Wordt geopend in nieuw venster
Omslagafbeelding: Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability 9781845699376

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability

  • Auteur(s) Kim, C-U
  • Uitgever Gepubliceerd door Woodhead Publishing
  • "ISBN-13 9781845699376"
  • Indeling Reflowable lay-out

eBook

Licentie eTextbook
‌
€190.75 EUR
‌‌
‌

  • Studietools

    Ingebouwde studiehulpmiddelen zoals markeringen en meer

  • Hardop voorlezen

    Luister en lees mee terwijl Bookshelf voorleest

  • Offline toegang

    Altijd en overal toegang tot je eTextbook

  • Algemene zoekfunctie

    Doorzoek de boekinhoud, illustraties en je werkmap

Meer informatie

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability is geschreven door Kim, C-U en gepubliceerd door Woodhead Publishing. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials And Reliability zijn 9780857093752 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9781845699376, 1845699378. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.

Terug naar boven