• Educatieve en zakelijke oplossingen Wordt geopend in nieuw venster
Omslagafbeelding: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 9783319912035

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

  • Auteur(s) Ireneusz Mrozek
  • Uitgever Gepubliceerd door Springer Copyright © 2019
  • "ISBN-13 9783319912035"
  • Indeling Reflowable lay-out

eBook

Licentie eTextbook
‌
€16.35 EUR
‌‌
‌

  • Studietools

    Ingebouwde studiehulpmiddelen zoals markeringen en meer

  • Hardop voorlezen

    Luister en lees mee terwijl Bookshelf voorleest

  • Offline toegang

    Altijd en overal toegang tot je eTextbook

  • Algemene zoekfunctie

    Doorzoek de boekinhoud, illustraties en je werkmap

Meer informatie

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults is geschreven door Ireneusz Mrozek en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults zijn 9783319912042, 3319912046 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9783319912035, 3319912038. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.

Terug naar boven