Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs is geschreven door Ruijing Shen; Sheldon X. -D. Tan; Hao Yu en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs zijn 9781461407881, 1461407885 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9781461407874, 1461407877. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs is geschreven door Ruijing Shen; Sheldon X. -D. Tan; Hao Yu en gepubliceerd door Springer. De digitale en eTextbook-ISBN's voor Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs zijn 9781461407881, 1461407885 en de ISBN's voor gedrukt materiaal zijn 9781461407874, 1461407877. Bespaar tot 80% ten opzichte van gedrukte boeken door over te stappen op digitaal bij VitalSource.